X-RAY analyzátor CMI 900 a CMI 700

Analyzátor řady CMI 900 je určen k nedestruktivnímu měření tlušťky povrchových vrstev. Tyto analyzátory jsou schopny měřit tloušťku jakéhokoliv povrchu, jednotlivých vrstev, a to i vícenasobných vrstev nebo slitin takřka na jakémkoliv podkladě.

Přístroj je rovněž schopen zjistit koncentraci roztoku, složení slitin a provést rozbor a analýzu materiálu.

Přístroj CMI 700 je modulární přístroj určený k přesnému stanovení tloušťky různých vrstev Cu jak na povrchu, tak i v otvorech. Přístroj může být nakonfigurován v libovolné kombinaci se třemi měřícími moduly: mikroodporový modul MRX, Beta backscatter modul a modul na principu vířivých proudů a magnetické indukce EMX.

Technická specifikace

CMI 900/950	rentgenový analyzátor pro měření tloušťky povrchových vrstev a koncentrací roztoků Ag, Au.Ni, Sn...
CMI 700	přístroj pro měření tlouštěk pokovení v otvorech od 0,25 mm do 6,5 mm

Rentgenový analyzátor CMI 900	Rentgenový analyzátor CMI 700